測(cè)厚儀測(cè)試方法(fǎ)及(jí)選購指南
測厚儀的(dí)測(cè)試方法(fǎ)主要有(yǒu)：磁性測(cè)厚(hòu)法(fǎ)，放(fàng)射測厚(hòu)法(fǎ)，電(diàn)解(jiě)測(cè)厚(hòu)法(fǎ)，渦流(liú)測厚(hòu)法，超聲波測厚法。
一(yī)，在(zài)做測厚(hòu)的時(shí)候要注(zhù)意(yì)以下(xià)八點(diǎn)：
1.在進行(háng)測(cè)試(shì)的(dí)時候要注意標(biāo)準片集體的金(jīn)屬(shǔ)磁性和(hé)表(biǎo)麵粗(cū)糙度(dù)應(yīng)當與(yǔ)試件(jiàn)相(xiāng)似(sì)。
2.在(zài)測(cè)量的時(shí)候(hòu)要注(zhù)意，側頭與(yǔ)試樣(yàng)表麵保持(chí)垂直(zhí)。
3在進(jìn)行測試的時(shí)候要(yào)注(zhù)意基體金(jīn)屬的臨(lín)界(jiè)厚度，如(rú)果(guǒ)大(dà)於(yú)這(zhè)個厚(hòu)度測(cè)量(liáng)就不(bù)受基(jī)體(tǐ)金(jīn)屬厚度的(dí)影響。
4.在(zài)測量(liáng)的(dí)時(shí)候要注(zhù)意(yì)試件的曲率對(duì)測量(liáng)的(dí)影(yǐng)響。因此在彎曲的試件(jiàn)表(biǎo)麵上測量時(shí)不可靠的(dí)。
5.測(cè)量(liáng)前(qián)要(yào)注意(yì)周圍(wéi)其(qí)他的(dí)電器設(shè)備會(huì)不(bù)會產生磁場，如果(guǒ)會將(jiāng)會(huì)幹擾(rǎo)磁性測厚法。
6.測(cè)量時要(yào)注意不(bù)要(yào)在內轉角(jiǎo)處和靠(kào)近(jìn)試件(jiàn)邊(biān)緣處(chǔ)測量，因為(wéi)一般的(dí)測(cè)厚儀試(shì)件(jiàn)表麵(miàn)形(xíng)狀(zhuàng)的忽然變化很敏(mǐn)感。
7.在(zài)測(cè)量時要(yào)保(bǎo)持壓力的恒定，否(fǒu)則會影響測量(liáng)的讀數(shù)。
8.在進行測(cè)試(shì)的時候(hòu)要注意儀(yí)器測頭和(hé)被測試件(jiàn)的要直接(jiē)接觸，因此超(chāo)聲波(bō)測厚(hòu)儀(yí)在進行(háng)對側頭(tóu)**附(fù)著物質(zhì)。
二(èr)，超聲波(bō)測厚(hòu)儀主要功(gōng)能(néng)
1，超聲波測厚儀適(shì)合(hé)測(cè)量(liáng)金屬(如鋼，鑄鐵，鋁(lǚ)，銅等)，塑料，陶(táo)瓷，玻(bō)璃(lí)，玻(bō)璃纖(xiān)維及(jí)其(qí)他(tā)任何超(chāo)聲(shēng)波的良導體的(dí)厚(hòu)度(dù)；
2，可(kě)配(pèi)備(bèi)多(duō)種不同頻(pín)率(shuài)，不同晶(jīng)片(piàn)尺寸(cùn)的(dí)探頭使(shǐ)用；
3，具有探頭零點校準，兩點校準(zhǔn)功能,可對(duì)係(xì)統誤差(chà)進行(háng)自(zì)動修正(zhèng)；
4，已(yǐ)知(zhī)厚(hòu)度可以(yǐ)反(fǎn)測聲速，以提高(gāo)測(cè)量精(jīng)度(dù)；
5，具(jù)有單(dān)點(diǎn)測厚和(hé)掃描測厚兩種(zhǒng)測厚工作模(mó)式；
6，可預(yù)先設置厚度(dù)值(zhí)上，下限，超(chāo)出(chū)範(fàn)圍(wéi)自動報(bào)警；
7，具有耦合狀態提示(shì)功能(néng)；
8，有EL背(bèi)光(guāng)顯示，方(fāng)便(biàn)在(zài)光(guāng)綫昏暗環(huán)境中使(shǐ)用；
9，有剩餘(yú)電量指示(shì)功能，可實(shí)時(shí)顯示電(diàn)池剩餘(yú)電(diàn)量(liáng)；
10 超聲(shēng)波(bō)測厚儀(yí)具有自動(dòng)休眠，自(zì)動關機等節電功能(néng)；
11，帶有RS232接(jiē)口，可以方便(biàn)，快捷(jié)地(dì)與PC機(jī)進(jìn)行數據交(jiāo)換(huàn)和(hé)參數設定。可以連接到(dào)微型打(dǎ)印機(jī)（廠(chǎng)家(jiā)指定型(xíng)號(hào)）打印測量報告(gào)。
12，可(kě)選擇配備微機(jī)軟件，具(jù)有傳輸(shū)測量結果，測值存儲管理，測(cè)值(zhí)統(tǒng)計分析(xī)，打(dǎ)印(yìn)測(cè)值報告等豐(fēng)富功(gōng)能(néng)；
13，超(chāo)聲(shēng)波測(cè)厚(hòu)儀密封的金(jīn)屬外殼，小巧，便(biàn)攜，可(kě)靠(kào)性高，適用於惡劣(liè)的(dí)操作環境(jìng)，抗振動(dòng)，衝(chōng)擊和(hé)電(diàn)磁(cí)幹(gān)擾；超聲(shēng)波測(cè)厚儀(yí)在(zài)測量(liáng)前要(yào)做二(èr)點校準和(hé)零點校(xiào)準，二點(diǎn)校準(zhǔn)就是(shì)把(bǎ)標準(zhǔn)膜片放在(zài)金屬基(jī)片(piàn)上測(cè)試(shì)，如果在允許(xǔ)誤差就不(bù)需要進行(háng)二(èr)點(diǎn)測試(shì)，如果(guǒ)誤(wù)差很大(dà)校(xiào)準(zhǔn)結束後(hòu)在測(cè)試標(biāo)準片(piàn)，直(zhí)到顯(xiǎn)示(shì)的數據正常(cháng)為止(zhǐ)。零點校準就(jiù)是(shì)將機器(qì)打(dǎ)開(kāi)調到(dào)零(líng)點校準的模(mó)式(shì)，在被測工件(jiàn)上測(cè)試(shì)然後(hòu)完成就可以。