泄(xiè)漏(lòu)電(diàn)流測試儀(yí)測試(shì)注(zhù)意事(shì)項

1
，在工作(zuò)溫度下(xià)測(cè)量(liáng)泄漏(lòu)電流(liú)時，如果被測電(diàn)器(qì)不是(shì)通過(guò)隔離變壓(yā)器供電，被(bèi)測(cè)電器(qì)應彩(cǎi)絕緣性能可(kě)靠的物(wù)質(zhì)絕緣墊(diàn)與(yǔ)地絕(jué)緣。否則(zé)將有部分(fēn)泄漏電流直(zhí)接流經地(dì)麵而不經(jīng)過儀(yí)器，影響(xiǎng)測試(shì)數據的準確(què)性(xìng)。

2
，泄漏電(diàn)流(liú)測量(liáng)是(shì)帶(dài)電進行測(cè)量(liáng)的，被(bèi)測電(diàn)器(qì)外殼(ké)是(shì)帶電的(dí)。因(yīn)此(cǐ)，試驗人(rén)員必須注意**，各式(shì)各樣試(shì)驗室應製訂**操作規(guī)程，在沒(méi)有切斷(duàn)電流(liú)前(qián)，不得觸(chù)摸被(bèi)測電(diàn)器。

3
，應(yīng)盡量減(jiǎn)少(shǎo)環境對(duì)測試數據的影響(xiǎng)，測試(shì)環(huán)境(jìng)的溫(wēn)度
，濕度和(hé)絕(jué)緣表麵的汙(wū)染情(qíng)況(kuàng)，對於(yú)泄漏電流有(yǒu)很大(dà)影(yǐng)響，溫(wēn)度高
，濕度(dù)大，絕緣表麵嚴重汙染，測定(dìng)的泄(xiè)漏(lòu)電流值較大(dà)。

泄(xiè)漏電(diàn)流測試儀(yí)原理和操作(zuò)

泄漏電流是(shì)指(zhǐ)在沒(méi)有故障施加電(diàn)壓的情(qíng)況(kuàng)下(xià)，電氣中帶相互絕緣(yuán)的金(jīn)屬(shǔ)零(líng)件之間，或(huò)帶電零件(jiàn)與(yǔ)接(jiē)地(dì)零(líng)件(jiàn)之(zhī)間，通過其周圍介質或絕(jué)緣表麵所形(xíng)成的(dí)電(diàn)流(liú)稱為泄漏(lòu)電(diàn)流(liú)。按(àn)照(zhào)美(měi)國(guó)UL標(biāo)準(zhǔn)，泄漏(lòu)電流(liú)是包括電容(róng)耦合電流在內的(dí)，能(néng)從家(jiā)用電(diàn)器可觸及部分(fēn)傳導的電(diàn)流(liú)。泄(xiè)漏電(diàn)流包(bāo)括兩(liǎng)部分(fēn)，一(yī)部(bù)分(fēn)是通過絕緣電(diàn)阻的傳導電流I1；另一部分是通過(guò)分布電容的(dí)位移(yí)電(diàn)流(liú)I2，後(hòu)者(zhě)容抗為(wéi)Xc=1/2πfc與電(diàn)源頻(pín)率(shuài)成反(fǎn)比，分布(bù)電(diàn)容電(diàn)流(liú)隨頻率升(shēng)高(gāo)而增加，所以泄(xiè)漏(lòu)電(diàn)流(liú)隨電(diàn)源(yuán)頻率升(shēng)高(gāo)而增(zēng)加。例如：用(yòng)可控(kòng)矽(guī)供電，其(qí)諧波分量使泄漏電(diàn)流增(zēng)大。在(zài)進行(háng)耐(nài)壓測試時，為了(liǎo)保護(hù)試(shì)驗設(shè)備(bèi)和按(àn)規定的(dí)技術指標(biāo)測(cè)試，也需(xū)要確定(dìng)一個(gè)在(zài)不(bù)破壞被測設(shè)備(bèi)（絕緣(yuán)材料）的(dí)*高電(diàn)場強(qiáng)度(dù)下(xià)允許流經被測(cè)設(shè)備(bèi)（絕(jué)緣材(cái)料(liào)）*大電流值，這(zhè)個電(diàn)流通常(cháng)也稱(chēng)為泄漏電(diàn)流，但這(zhè)個(gè)要領(lǐng)隻是在(zài)上(shàng)述(shù)特(tè)定場(cháng)使(shǐ)下使用。

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