功(gōng)能特性(xìng)：

• 可檢(jiǎn)測TO-CAN 封裝(zhuāng)金屬(shǔ)外(wài)蓋(gài)與透鏡之刮傷，破(pò)裂，異物及(jí)膠(jiāo)合**等缺陷
• 具(jù)備自動(dòng)對焦(jiāo)功能
  ，可克服(fú)載盤製造公差內(nèi)的高度差異
• 檢測完(wán)成(chéng)後可(kě)依設(shè)定規(guī)格(gé)挑(tiāo)揀**品(pǐn)
• 提供比人工目檢(jiǎn)更(gēng)佳(jiā)的(dí)可靠(kào)度及(jí)重復性(xìng)
• 每小(xiǎo)時*高(gāo)可檢測(cè)3600顆(kē)待(dài)測物
• 自動化(huà)上下(xià)料盤
  ，減(jiǎn)少(shǎo)人員上下料(liào)時(shí)間(jiān)
• 提(tí)供完(wán)整(zhěng)的檢(jiǎn)測資料
  ，包含(hán)檢(jiǎn)測數據及(jí)缺陷(xiàn)影(yǐng)像(xiàng)以供(gōng)工程分(fēn)析(xī)

技(jì)術(shù)參數：

Chroma 7925為自動化(huà)TO-CAN 封裝外(wài)觀檢測係統
，可提(tí)供(gōng)封(fēng)裝前(qián)後(hòu)的透鏡與金屬外蓋缺(quē)陷進行(háng)檢測
。透(tòu)過高(gāo)解析度之(zhī)鏡(jìng)頭(tóu)以及多樣(yàng)的光源(yuán)配(pèi)置(zhì)
，可檢出(chū)30um以(yǐ)上的(dí)透(tòu)鏡(jìng)刮傷(shāng)及異物
。由於(yú)載盤(pán)可能存(cún)在製(zhì)造公差導致待(dài)測(cè)物對(duì)焦(jiāo)距離均不相同(tóng)
，Chroma 7925配(pèi)置了自動對焦係統
，可(kě)自(zì)動計算(suàn)待(dài)測物(wù)之對焦距(jù)離(lí)並(bìng)進(jìn)行補償
，以確保可以(yǐ)取得(dé)清(qīng)楚的(dí)檢測(cè)影像(xiàng)
。

使(shǐ)用者(zhě)可(kě)以(yǐ)自由(yóu)設定良品(pǐn)與(yǔ)**品(pǐn)之規(guī)則及(jí)缺陷編碼
，並依(yī)據編(biān)碼(mǎ)進(jìn)行挑揀(jiǎn)
。從(cóng)上片(piàn)，檢測(cè)，挑(tiāo)揀(jiǎn)及下片(piàn)均(jūn)為(wéi)全(quán)自動化流(liú)程
，大(dà)幅(fú)降(jiàng)低(dī)人員(yuán)操作(zuò)及製程管理(lǐ)發(fā)生(shēng)錯(cuò)誤的(dí)機(jī)會
。檢(jiǎn)測完成後
，工(gōng)程(chéng)師可以取得詳細的缺陷量化數據(jù)
，以(yǐ)及儲存(cún)缺陷(xiàn)影(yǐng)像以利於(yú)再(zài)判(pàn)讀(dú)
。相(xiāng)較於人工目(mù)檢(jiǎn)無(wú)法保(bǎo)留檢 測(cè)資(zī)料(liào)
，使用Chroma 7925所(suǒ)取(qǔ)得之資(zī)料(liào)
，將有助於(yú)分析製(zhì)程(chéng)問(wèn)題
，並進一步(bù)提升產品(pǐn)良(liáng)率
。

選(xuǎn)購(gòu)附(fù)件：

主(zhǔ)要銷(xiāo)售：LCR測試儀,,信號發(fā)生器(qì),數(shù)字存儲示波器,絕緣電(diàn)阻測試儀扭力(lì)扳手(shǒu)扭(niǔ)矩扳手耐壓(yā)測試儀直流(liú)電阻(zǔ)測(cè)試儀數(shù)字電(diàn)橋等等(děng)測(cè)量(liáng)儀(yí)器
，測(cè)試儀(yí)器(qì)
，工具等
。（點(diǎn)擊(jī)關鍵(jiàn)詞可進入相(xiāng)關產(chǎn)品(pǐn)目錄(lù)）扭(niǔ)力測(cè)試儀瓶蓋扭力測(cè)試儀(yí)數字(zì)電橋(qiáo),扭力(lì)扳手(shǒu)

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