數(shù)字IC測(cè)試儀(yí) ICT-33C功能(néng)特(tè)征
可測1300種器件.
可(kě)對器(qì)件好(hǎo)壞判別,型號判別(bié),老化(huà)測(cè)試(shì),
器(qì)件(jiàn)代(dài)換(huàn)查(chá)詢,內部RAM數據修(xiū)改,
EPROM,EEPROM器(qì)件讀出寫入(rù).
功(gōng)能參(cān)數
主(zhǔ)要(yào)功(gōng)能
器件好壞(huài)判別(bié):當(dāng)不知(zhī)被測器(qì)件(jiàn)的(dí)好(hǎo)壞時,儀(yí)器可判斷其好(hǎo)壞(huài)。
器件型號判(pàn)別:當(dāng)不(bù)知被測器(qì)件型號時(shí),儀器可依據其(qí)邏(luó)輯功(gōng)能來(lái)判斷其(qí)型號。
器(qì)件老(lǎo)化(huà)測(cè)試(shì):當(dāng)懷(huái)疑被測器件的穩(wěn)定性(xìng)時,儀器可對其進行(háng)連續老化(huà)測試。
器件(jiàn)代換(huàn)查詢:儀(yí)器可(kě)顯示有(yǒu)無(wú)邏輯(jí)功(gōng)能(néng)一(yī)致,引(yǐn)腳排(pái)列(liè)一致的器件(jiàn)型號。
內部(bù)RAM數(shù)據修改:ICT?/FONT>33C可從鍵盤對自(zì)己內(nèi)部(bù)RAM 中的數(shù)據進(jìn)行隨機(jī)修(xiū)改。
EPROM,EEPROM器件(jiàn)讀(dú)入:ICT?/FONT>33C可將(jiāng)64K以(yǐ)內(nèi)的EPROM,EEPROM器件(jiàn)內的數(shù)據(jù)進行讀(dú)入並保(bǎo)存(cún)。
EPROM,EEPROM器件(jiàn)寫(xiě)入:ICT?/FONT>33C可將內部RAM中的數據寫(xiě)入到64K以內的EPROM,EEPROM器(qì)件(jiàn)中(zhōng),並(bìng)自動校驗。
可(kě)測器(qì)件(jiàn)(1300多種)
CMOS40係(xì)列(liè):103種。
CMOSMC140係(xì)列(liè):103種(zhǒng)。
CMOS45係列(liè):60種(zhǒng)。
CMOSMC145係(xì)列:60種。
光(guāng)耦(ǒu)合(hé)器係列:133種。
TTL74/54係列:714種(zhǒng)。
TTL75/55係(xì)列(liè):82種。
數碼管(guǎn)係列:
0.5吋共陽[001];共陰[002];0.3吋(dòu)共陽[003];共(gòng)陰[004];0.7吋共(gòng)陽(yáng)[005];共(gòng)陰(yīn)[006]。
常(cháng)用(yòng)RAM係列:
2112 2114 2016 6116 6264 6225 6 60256 628128
EEPROM係(xì)列(liè):
2816 2817 2864 28256 28040 29101
PROM係列:
2716 2732 2764 27128 27256 27512
微(wēi)機外(wài)圍(wéi)電路(lù)係(xì)列(liè):
8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226 8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254 8251 8279 8708 6840 8718 8728 Z8OCTC(8O2)
常用單片(piàn)機係(xì)列:
8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8049 8751 8752
上海麥聚(jù)瑞電子(zǐ)儀(yí)器有限公(gōng)司是(shì)一家(jiā)專(zhuān)業從(cóng)事生(shēng)產(chǎn),代理(lǐ),經銷儀器儀表,電子工(gōng)具(jù),配套設備的(dí)綜合性企業。
主要(yào)銷售:數字電(diàn)橋(qiáo),數(shù)字(zì)示波器,扭力(lì)測試儀,耐(nài)壓測試儀,多效能(néng)信號發生(shēng)器,數字(zì)存儲示(shì)波器(qì),ROHS檢測等(děng)等測量儀(yí)器,工具(jù)等(děng)。(點(diǎn)擊關鍵詞(cí)可進(jìn)入(rù)相關(guān)產(chǎn)品目錄)
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