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產(chǎn)品(pǐn)資料
產(chǎn)品[

UI9600晶體管(guǎn)熱(rè)敏參數(shù)篩選儀(yí)

]資料
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產品名稱: UI9600晶(jīng)體(tǐ)管熱(rè)敏(mǐn)參(cān)數篩選(xuǎn)儀
產(chǎn)品(pǐn)型號(hào): UI9600晶體管熱(rè)敏(mǐn)參(cān)數篩選(xuǎn)儀 蘇(sū)州(zhōu)價(jià)格,蘇州代(dài)理(lǐ),大(dà)量批發(fā)供應,
產品展商:其它品牌
產(chǎn)品文(wén)檔(dàng): 無相關文檔(dàng)
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簡(jiǎn)單(dān)介(jiè)紹

UI9600晶體管(guǎn)熱敏參(cān)數(shù)篩選儀熱敏參(cān)數 是(shì)衡量晶體管VBE,β,ICEO 等參(cān)數在常(cháng)溫和高(gāo)溫下的變(biàn)化(huà)量(liáng),是(shì)晶體(tǐ)管的重要(yào)特性,受到越來越(yuè)多(duō)的鎮(zhèn)流器生產廠家(jiā)重視。因為鎮(zhèn)流(liú)器內部溫(wēn)度(dù)很高(gāo),高溫下晶體管的(dí)VBE,β,ICEO 等參(cān)數(shù)會發(fā)生(shēng)變化,如果(guǒ)變(biàn)化量過(guò)大,將嚴(yán)重(zhòng)降(jiàng)低(dī)產品可靠(kào)性(xìng)。

UI9600晶體管(guǎn)熱敏(mǐn)參(cān)數(shù)篩選(xuǎn)儀的(dí)詳(xiáng)細(xì)介(jiè)紹(shào)

熱敏(mǐn)參數(shù) 是衡量(liáng)晶(jīng)體管VBEβICEO 等參數(shù)在常溫和高溫(wēn)下的(dí)變(biàn)化量(liáng),是晶體管的(dí)重要特性,受(shòu)到越(yuè)來(lái)越多的鎮(zhèn)流(liú)器(qì)生產(chǎn)廠(chǎng)家重(zhòng)視。因為鎮流(liú)器內(nèi)部(bù)溫(wēn)度很(hěn)高(gāo),高溫下晶體管的VBEβICEO 等參(cān)數會(huì)發生(shēng)變化(huà),如(rú)果變(biàn)化量過(guò)大,將(jiāng)嚴重降低產(chǎn)品可(kě)靠性。

UI9600晶(jīng)體管熱(rè)敏參數(shù)篩選儀(yí)性能參數(shù):

功(gōng)能(néng) Characteristics:

常溫(wēn)下(xià)測量的參(cān)數(shù) Parameters measured under normal temperature:

    放(fàng)大倍數β(0~99)

    開關時(shí)間(jiān) Switching time T (0.01μs~99.9μs),包括(kuò)上升(shēng)時(shí)間,存(cún)儲時(shí)間,下降(jiàng)時間 including TrTsTf

    飽和壓降VCES (0~2V),正向壓降(jiàng)VBE (0~2V)

    漏(lòu)電(diàn)流(liú) Leakage current ICEO (0.1μA~3mA)

    耐壓(yā) Withstand voltage BVCEO (50V~650V)

高溫下(xià)測量的參數 Parameters measured under high temperature: β, VBE, ICEO

對比(bǐ)常(cháng)溫(wēn)和高(gāo)溫(wēn)下(xià)的(dí)兩(liǎng)次(cì)測量(liáng)結果,對β,VBEICEO 三(sān)項(xiàng)參(cān)數變(biàn)化量(liáng)超(chāo)過(guò)一定(dìng)範圍的管(guǎn)子(zǐ)以聲(shēng)光報(bào)警(jǐng),予以剔(tī)除

    Compare the results of β, VBE , ICEO measured in normal and high temperature, the selector will alarm to those

    variations exceed the preset limits so that operators can pick them out

對(duì)T,β進(jìn)行分(fēn)檔,可顯示批(pī)號(hào);對(duì)VCESVBE ICEOBVCEO 及熱敏(mǐn)參數進(jìn)行(háng)超(chāo)限判斷,不合(hé)格的聲(shēng)光報(bào)警, 並(bìng)指示不合(hé)格項(xiàng)

    Pre-set grouping values for T & β, selector can display group number and alarm when measured values  of VCES,

    VBE, ICEO and BVCEO exceed the limits, meanwhile indicating the unqualified item

測試條件(jiàn)可按(àn)要(yào)求自由(yóu)調節或(huò)設(shè)定(dìng) Freely adjusting or setting of test conditions according to requirement

    A. β測試 β testing: Ib 注入(rù)電流有三檔(dàng) three different Ib current: 0.1mA, 1mA, 10mA

    B. 開關時間測試(shì) Switching time test:  Ic 電流(liú)有四(sì)檔 4 different Ic current: 0.5A, 0.25A, 0.1A, 0.05A

                                 對(duì)應 Ib 電流(liú)為 the corresponding current Ib: 0.1A, 0.05A, 0.02A, 0.01A

    C. 對晶(jīng)體(tǐ)管加熱條(tiáo)件 Heating condition for transistor:

    加(jiā)熱(rè)電(diàn)壓(yā) Heating voltage: 5~20V      連(lián)續(xù)可調(tiáo) continuously adjustable

    加熱時(shí)間 Heating time: 0~9.9s        連續(xù)可調 continuously adjustable

分檔(dàng),超限(xiàn)判(pàn)斷(duàn)可(kě)自(zì)由(yóu)設(shè)定(dìng),掉(diào)電(diàn)自(zì)動保(bǎo)存,儀器能夠(gòu)同時(shí)保存(cún)20組數據(jù),使用時隻要調出其中(zhōng)一(yī)組即(jí)可 

    Grouping values and limit values freely set, with automatically saving function in case of power cut; the instrument can save 20

    different settings, choose one setting when using

四窗口(kǒu)數(shù)字顯(xiǎn)示所測(cè)數(shù)據,讀(dú)數(shù)直觀,可打印(yìn)所測數(shù)據(jù) 

    4 windows for displaying measured values, easy to read, and printable

 

上(shàng)海(hǎi)麥聚瑞電子(zǐ)儀(yí)器(qì)有(yǒu)限公司是一(yī)家集生(shēng)產(chǎn),研發(fā)以及產品代理(lǐ)經銷(xiāo),產(chǎn)品(pǐn)技術(shù)培訓和(hé)提(tí)供解決(jué)方案(àn)的專業(yè)儀器(qì)儀表公(gōng)司(sī)(咨詢(xún)電(diàn)話: /18/19.

 

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